pencarian buku
buku
Mendukung
Masuk
Masuk
pengguna terdaftar memiliki akses ke:
rekomendasi pribadi
Bot Telegram
riwayat unduhan
mengirim ke alamat email atau Kindle
manajemen daftar buku
penyimpanan ke Favorit
Pribadi
Permintaan untuk buku
Pengkajian
Z-Recommend
Daftar buku
Yang paling populer
Kategori
Partisipasi
Mendukung
Unggahan
Litera Library
Menyumbangkan buku kertas
Menambah buku kertas
Search paper books
LITERA Point saya
Pencarian kata kunci
Main
Pencarian kata kunci
search
1
Test und Verlässlichkeit von Rechnern
Springer
Günter Kemnitz
fehler
fiir
anzahl
abbildung
datenfehler
iiber
modellfehler
fehleranzahl
systems
erwartende
gro
zuverlassigkeit
siehe
tests
verlasslichkeit
scan
fehlfunktionen
wert
abschnitt
betragt
fehlerdichte
systeme
schaltung
testschritt
testzeit
funktion
nachweisbaren
testauswahl
aufgabe
entwurf
teilzuverlassigkeit
beispiel
eingabe
testsatz
wahrscheinlichkeit
besteht
vgl
bits
daten
mindestens
schieberegister
zufallstest
abschatzung
berechnung
testschritte
erwartenden
fehlerbeseitigung
nachweis
schatzen
testsatzlange
Tahun:
2007
Bahasa:
german
File:
PDF, 23.97 MB
Tag Anda:
0
/
0
german, 2007
2
Test und Verlässlichkeit von Rechnern (eXamen.press) (German Edition)
Springer
Günter Kemnitz
fehler
fiir
anzahl
abbildung
datenfehler
iiber
modellfehler
fehleranzahl
systems
erwartende
gro
zuverlassigkeit
siehe
tests
verlasslichkeit
scan
fehlfunktionen
wert
abschnitt
betragt
fehlerdichte
systeme
schaltung
testschritt
testzeit
funktion
nachweisbaren
testauswahl
aufgabe
entwurf
teilzuverlassigkeit
beispiel
eingabe
testsatz
wahrscheinlichkeit
besteht
vgl
bits
daten
mindestens
schieberegister
zufallstest
abschatzung
berechnung
testschritte
erwartenden
fehlerbeseitigung
nachweis
schatzen
testsatzlange
Tahun:
2007
Bahasa:
german
File:
PDF, 23.30 MB
Tag Anda:
0
/
0
german, 2007
3
Probabilistische Verfahren für den Test hochintegrierter Schaltungen
Springer-Verlag Berlin Heidelberg
Hans-Joachim Wunderlich (auth.)
schaltung
fehler
schaltungen
proc
bild
seiten
wahrscheinlichkeit
funktion
verfahren
conference
daher
muster
zahl
protest
zufallstest
gütefunktion
herausgegeben
scan
eingangswahrscheinlichkeiten
optimierten
falls
wert
knoten
zufallsmustern
automation
folgenden
zufallsmuster
lrs
tests
signalwahrscheinlichkeiten
vlsi
eingänge
primären
abschnitt
berechnung
chip
läßt
stets
circuits
eingang
optimierung
tabelle
testing
selbsttest
testability
ausgang
erzeugt
fehlerentdeckungswahrscheinlichkeiten
redundanz
schaltnetze
Tahun:
1987
Bahasa:
german
File:
PDF, 3.95 MB
Tag Anda:
0
/
0
german, 1987
1
Pindah ke
tautan ini
atau temukan bot "@BotFather" di Telegram
2
Kirimlah perintah /newbot
3
Masukkan nama untuk bot Anda
4
Masukkan nama pengguna untuk bot
5
Salin pesan terbaru dari BotFather dan masukkannya di sini
×
×